產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：涂層測(cè)厚儀MiniTest2500/4500

  • 產(chǎn)品型號(hào)：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：其它品牌
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司涂層測(cè)厚儀MiniTest2500/4500作為MiniTest1100-4100系列的升級(jí)產(chǎn)品，為涂層測(cè)量領(lǐng)域的廣泛任務(wù)提供了多種探頭、不同的校準(zhǔn)方法和評(píng)估選項(xiàng)。 MiniTest 2500/4500涂層測(cè)厚儀具有IP65防護(hù)等級(jí)， 人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，高對(duì)比度顯示屏和背光鍵盤(pán)，以及其他有用的功能。可存儲(chǔ)多達(dá)200萬(wàn)個(gè)測(cè)量值，通過(guò)USB接口向計(jì)算機(jī)傳輸數(shù)據(jù)。MiniTest4500還提供藍(lán)牙連接。 MiniTest1100-4100系列的探頭都兼容于涂層測(cè)厚儀MiniTest2500/4500 - 鋼上的非磁性涂層厚度范圍可達(dá)0~50 mm - 用于有色金屬上的絕緣涂層厚度范圍可達(dá)0~100 mm - 耐高溫探頭，溫度高達(dá)250°C和350°C - 測(cè)量細(xì)管內(nèi)壁的直角加長(zhǎng)桿探頭 - 所有探頭都配有耐磨表面，確保使用壽命。
詳情介紹：

功能介紹

 

MiniTest2500

MiniTest4500

   可存儲(chǔ)的讀數(shù)總數(shù)
   *大批組數(shù)量
   具有獨(dú)立校準(zhǔn)值的應(yīng)用程序存儲(chǔ)數(shù)量
   具有相同校準(zhǔn)值的批組每個(gè)應(yīng)用程序存儲(chǔ)的批組數(shù)量

2000000
1
-
-

2000000
超過(guò)9500
99
99

   統(tǒng)計(jì)功能(每批組)

kvar, n, max., min.

kvar, n, max., min., CP, CPK

   校準(zhǔn)

-

如果無(wú)基材使用，則通過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)

   補(bǔ)償功能

-

用于從讀數(shù)中加/減一個(gè)恒定值

   極限設(shè)置(用戶(hù)自定義)

-

超出限制時(shí)的光信號(hào)和聲音信號(hào)報(bào)警

   測(cè)量單位

μm, mm, cm, mils, inch

   接口
   可升級(jí)接口

USB
-

USB和藍(lán)牙 4.0
報(bào)警輸出，腳踏開(kāi)關(guān)觸發(fā)，RS 232接口

   電源/每次更換電池的工作時(shí)間

3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(shí)(不使用背光)

   規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840；
ASTM B244,B499, D7091, E376

   顯示

   53 x 46 mm，帶背光

   操作溫度/存儲(chǔ)溫度

   10 ~60°C / –20 ~ 70°C

   尺寸/重量

53mm x 89mm x 36mm/ 320g(儀器包括電池)，橡膠保護(hù)套90g

   防護(hù)等級(jí)

IP 65

可選探頭

所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

*小曲率
半徑(凸/凹)

*小測(cè)量
區(qū)域直徑

*小基
體厚度

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%+0.7μm)

0.75/5mm

3mm

0.1mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%+10μm)

5/16mm

20mm

1mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%+20μm)

10/30mm

40mm

2mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%+50μm)

50/200mm

300mm

2mm

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%+0.5μm)

1/5mm

2mm

50μm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%+1μm)

2.5mm

2mm

100μm

N10

0-10mm

10μm

±(1%+25μm)

25/100mm

50mm

50μm

N20

0-20mm

10μm

±(1%+50μm)

25/100mm

70mm

50μm

N100

0-100mm

100μm

±(1%+0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

F：0.5mm/N：50μm

FN1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%+1μm)

平面/6mm

5mm

F：0.5mm/N：50μm

F2HT

0-2000μm

0.2μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

注：

F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
FN1.6/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量
N.08Cr用于測(cè)量銅上鍍鉻。
F2HT為高溫探頭，有兩款，允許在高達(dá)250°C或350° C表面溫度的熱表面上進(jìn)行涂層厚度測(cè)量

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