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粗糙度檢測(cè)儀的用途與使用方法
日期：2024-09-19 12:53
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摘要：
粗糙度檢測(cè)儀用于測(cè)量目標(biāo)物表面平滑度（凸凹程度）的裝置，又被稱(chēng)為“表面粗糙度儀”。主要分為觸針式及激光式。過(guò)去通常會(huì)使用金剛石材質(zhì)的觸針機(jī)型，但由于在測(cè)量半導(dǎo)體等表面時(shí)可能會(huì)劃傷表面，因此光學(xué)機(jī)型正在逐步普及。不光支持平面測(cè)量，還有能夠測(cè)量曲面的機(jī)型，近年來(lái)還出現(xiàn)了基于表面測(cè)量數(shù)據(jù)，將形狀顯示為三維圖像的儀器。
其用途包括金屬表面的磨損狀況確認(rèn)、切削面狀況確認(rèn)，以及涂裝時(shí)的完成狀態(tài)確認(rèn)等。在電子部件薄膜加工不斷發(fā)展的過(guò)程中，部分儀器還能以納米量級(jí)進(jìn)行測(cè)量。
實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)量的關(guān)鍵，是決定測(cè)量速度。先從較低的速度開(kāi)始嘗試，在測(cè)量值穩(wěn)定的范圍內(nèi)實(shí)施測(cè)量。
其用途包括金屬表面的磨損狀況確認(rèn)、切削面狀況確認(rèn)，以及涂裝時(shí)的完成狀態(tài)確認(rèn)等。在電子部件薄膜加工不斷發(fā)展的過(guò)程中，部分儀器還能以納米量級(jí)進(jìn)行測(cè)量。
粗糙度檢測(cè)儀的主要使用方法：
使用接觸式時(shí)，觸針會(huì)沿著目標(biāo)物表面移動(dòng)，測(cè)量表面的粗糙度。相比之下，采用激光的非接觸式機(jī)型則會(huì)用激光照射目標(biāo)物，通過(guò)檢測(cè)反射光，測(cè)量粗糙度。
測(cè)量時(shí)必須注意測(cè)量方向。例如在檢測(cè)金屬加工品時(shí)，為了更加確切地捕捉凸凹的特點(diǎn)，基本會(huì)進(jìn)行與加工方向相垂直的測(cè)量。
實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)量的關(guān)鍵，是決定測(cè)量速度。先從較低的速度開(kāi)始嘗試，在測(cè)量值穩(wěn)定的范圍內(nèi)實(shí)施測(cè)量。
